Національна академія наук України
National  Academy  of  Sciences  of  Ukraine
Skip Navigation Links
Пропустити посилання переходів
Центри
Створення
Використання
Події, оголошення
Про портал
Пропустити посилання переходів
TEM-SCANExpand TEM-SCAN
Випробувальна установка MTS
Комплекс "GLEEBLE - 3800"
Лабораторія газового аналізу в металах і сплавах
Лазерний інтерферометричний вимірювальний комплекс
Молекулярна і кристалічна структура матеріалів
Оптичний мікроскоп «Аксіоверт 200 М МАТ»
Оптичний спектрометр з індуктивно зв'язаною плазмою
Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз (СЕММА)
Центр електронної мікроскопії та рентгенівського мікроаналізу
Високовакуумна аналітична система UHV-Analysis-System
Мікроскопічні та спектроскопічні методи дослідження поверхні твердих тіл
Центр синхронного термічного аналізу

 TEM-SCAN 
 
   
Рік організації Центру 2006 

  Ін-т проблем матеріалознавства ім. І.М.Францевича 

  Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства 
  Секція фізико-технічних і математичних наук 

  Сторінка Центру 

 

Керівник центру: академік НАН України, д.ф.-м.н., професор, перший заступник директора з наукової роботи
зав. відділом фізики міцності і пластичності матеріалів Фірстов Сергій Олексійович
Тел.: 044-424-33-60, E-mail: fsa@ipms.kiev.ua
Відповідальний за роботу з користувачами центру: к.ф.-м.н., с.н.с. Даниленко Микола Іванович
Тел.: 044-424-02-94, E-mail: nick@ipms.kiev.ua



Контактна інформація

Iнститут проблем матерiалознавства ім. I.М.Францевича НАН України,
03680, Україна, Київ-142, вул. Кржижанівського, 3
Тел.: 044-424-20-71, Fax: 044-424-21-31 http://www.materials.kiev.ua/


 
ЦККП "TEM-SCAN" НАН України створено на базі Лабораторії електронно-зондового мікроаналізу  з метою найбільш раціонального
використання наукових приладів виробництва фірми JEOL (Японія): JEM-2100F, JEM-100СХ II, Superprobe 733, JAMP-10S, T-20.


Президія НАН України © Макетний зразок
  This Website is best available with Microsoft Internet Explorer 6.0+