Національна академія наук України
National  Academy  of  Sciences  of  Ukraine
Skip Navigation Links
Пропустити посилання переходів
Центри
Створення
Використання
Події, оголошення
Про портал
Пропустити посилання переходів
TEM-SCAN
Випробувальна установка MTS
Комплекс "GLEEBLE - 3800"
Лабораторія газового аналізу в металах і сплавах
Лазерний інтерферометричний вимірювальний комплекс
Молекулярна і кристалічна структура матеріалів
Оптичний мікроскоп «Аксіоверт 200 М МАТ»
Оптичний спектрометр з індуктивно зв'язаною плазмою
Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз (СЕММА)Expand Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз (СЕММА)
Центр електронної мікроскопії та рентгенівського мікроаналізу
Високовакуумна аналітична система UHV-Analysis-System
Мікроскопічні та спектроскопічні методи дослідження поверхні твердих тіл
Центр синхронного термічного аналізу

 Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз (СЕММА) 
 
Cкануючий електронний
мікроскоп ZEISS EVO 50XVP
   
Рік організації Центру 2004 

  Ін-т надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля 

  Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства 
  Секція фізико-технічних і математичних наук 

  Сторінка Центру 

 

Керівник центру: к.ф-м.н., пров.наук.співр. Гонтар Олександр Григорович
E-mail: gontar@ism.kiev.ua
Головний спеціаліст центру: д.ф.-м.н., с.н.с., завідувач лабораторії наноструктурних і кристалофізичних досліджень
Ткач Василь Миколайович
E-mail: tkach@ism.kiev.ua
Тел.: 044-468 86-32, 044-467-66-42, 044-432-99-32



Контактна інформація
Iнститут надтвердих матерiалiв ім. В.М. Бакуля   04074, Київ 74, вул. Автозаводська, 2, 
 Тел.: 044-468-86-32, факс 044-468-86-32, 044-468-86-25, e-mail alkon@ism.kiev.ua   

 
ЦКК створено на з метою використання скануючого ел. мікроскопа ZEISS EVO 50XVP фірми ZEISS,
з аналізатором рентгенівських спектрів INCA450 з детектором INCAPentаFETx3 та системою
HKL CHANNEL-5 для дифракції відбитих електронів  виробництва фірми OXFORD


Президія НАН України © Макетний зразок
  This Website is best available with Microsoft Internet Explorer 6.0+