Національна академія наук України
National  Academy  of  Sciences  of  Ukraine
Skip Navigation Links
Пропустити посилання переходів
Центри
Створення
Використання
Події, оголошення
Про портал
Пропустити посилання переходів
Актуальні проблеми наукових досліджень, для вирішення яких створено Центр
Організаційний статус Центру
Фахівці Центру
Опис технічних показників приладів/обладнання Центру
Близькі за можливостями існуючі вітчізняні та зарубіжні аналоги
Основні результати діяльності Центру
Послуги Центру
Графік роботи Центру
Питання поліпшення діяльності Центру

 Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем 
 
Вимірювальний комплекс для експресного
контролю напівпровідникових матеріалів
   
Рік організації Центру 2004 

  Ін-т фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова 

  Відділення фізики і астрономії 
  Секція фізико-технічних і математичних наук 

  Сторінка Центру 

 
Керівник Центру: д.ф.-м.н, професор, зав. відділом електроннозондових методів структурного і елементного аналізу напівпровідникових матеріалів і систем Прокопенко Ігор Васильович
Тел./факс: 044-525-44-49


Контактна інформація

03028, Київ 28, просп. Науки, 41,
Тел.: 044-525-40-20, факс: 044-525-83-42, e-mail: info@isp.kiev.ua


 
ЦКП включає три підрозділи: «Високороздільна рентгенівська дифрактометрія», "Комплекс скануючої
зондової мікроскопії" та "Вимірювальний комплекс для експресного контролю напівпровідникових матеріалів
і нанорозмірних приладів


Президія НАН України © Макетний зразок
  This Website is best available with Microsoft Internet Explorer 6.0+