Логотип НАН України
Національна академія наук України
National  Academy  of  Sciences  of  Ukraine

Skip Navigation Links
Пропустити посилання переходів
Нормативні акти
Об'єкти
Наукові пріоритети
Державні пріоритети
Пропустити посилання переходів
Підпорядкованість
Розташування
2001 рікExpand 2001 рік
2002 рік
2004 рік
2006 рік
2007 рік
2008 рік
2009 рік
2015 рік
Дифрактометричний комплекс нового покоління Інституту металофізики імені Г.В.Курдюмова 
 

 Організація-власник об'єкта:

 Науковий керівник

 Відповідність виконання проекту державним пріоритетам

 Відповідність виконання проекту науковим пріоритетам

 
Адреса місця знаходження наукового об’єкта:
03680, Київ-142, бульв. Академіка Вернадського 36
 
Телефон:
(044) 4240530 
 
Електронна пошта:
metall@imp.kiev.ua 
 
Електронна адреса:
Власна веб-сторінка 
 
Дата реєстрації наукового об'єкта:
19.12.2001 
 
Коротка характеристика (анотація):

В Інституті металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України в рамках бюджетної тематики, а також проектів Міннауки створено унікальний автоматичний дифрактометричний комплекс для вивчення спотворень структури монокристалів та виробів з них на якісно новому, перевищуючому світовий, рівні. Цей рівень забезпечується врахуванням нових ефектів узагальненої динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів (також створеної в ІМФ НАН України) та розроблених і реалізованих на цьому комплексі методів нового покоління, на які отримано авторські свідоцтва і патенти, для кількісної неруйнівної діагностики монокристалів та виробів з них, які не мають аналогів в світі за рівнем інформативності і чутливості. Крім того, цей дифрактометричний комплекс представляє собою основу оригінальної діагностичної бази для дослідження структури та сертифікації якісно нового рівня, тобто не лише за елементним складом, як було прийнято в міжнародній практиці 20 століття, а й за спектром дефектності структури, який визначає властивості та якість унікальних монокристалічних матеріалів, в тому числі: багатошарові структури і надгратки, модифіковані шари і профільовані поверхні монокристалів, зокрема і об'єктів рентгенівської мікролітографії, приладів рентгенівської оптики та виробів субмікронних і нанотехнологій, для яких стандартні методи неруйнуючої діагностики, що не враховують суттєвих у цих випадках динамічних нелінійних ефектів багатократності дифузного розсіяння, малоінформативні і практично непридатні. Це допоможе Україні налагодити виробництво конкурентноздатної продукції.

Комплекс дає змогу реалізувати нові методи трикристальної рентгенівської дифрактометрії, які забезпечують можливість виконувати вимірювання окремо когерентної та дифузної складових інтегральної інтенсивності, а також їх кутовий розподіл в певних напрямках в околі вузлів оберненої гратки (в геометріях Лауе та Брегга). Комплекс забезпечує можливість реалізовувати також інші рентгенодифракційні методи, що вимагають високої роздільної здатності на рівні 0,1 кут.сек. Вказані технічні особливості знаходяться на рівні сучасних провідних наукових центрів Америки і Європи.

 

 Склад і стан наукового об'єкта:

2008
Номер
Назва об'єкта, в тому числі його частин
Одиниця зберігання, кількість
Стан
Дифрактометричний комплекс нового покоління
1Дифрактометр ДРОН-3
1 шт.
2Гоніометр ТРС-1
1 шт.
3Дифрактометр ДРОН-3М
1 шт.
4Дифрактометр ДРОН-4
1 шт.
5Система управління дифрактометром на базі ПЕОМ
1 шт.
Нова система
   
Президія НАН України © Макетний зразок
  This Website is best available with Microsoft Internet Explorer 6.0+